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當前位置:首頁產品展示AC法熱擴散率測量系統(tǒng)LaserPITAC法熱擴散率測量系統(tǒng)

AC法熱擴散率測量系統(tǒng)
產品簡介:

AC法熱擴散率測量系統(tǒng)LaserPIT通過掃描激光加熱埃法測量薄板材料平面方向上的熱擴散系數;對于高導熱材料,還可測量亞微米的薄膜。特點:1. 精確測量從鉆石到聚合物片材的熱擴散系數;2. 適用于各種材料3-500um厚度試樣;3. 通過示差法方法可以測量沉積在測試板上100-1000nm的薄膜的導熱系數;4. 操作簡單;5. 專門的軟件進行控制,測量和分析;

產品型號:LaserPIT

更新時間:2024-11-07

廠商性質:經銷商

訪 問 量 :2881

服務熱線

021-58362582

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產品介紹

AC法熱擴散率測量系統(tǒng)技術參數:
1.交流電源:激光二極管(波長685nm,輸出功率30mW)

2.照射位置:±3000μm,步長1μm;

3.頻率:0.1~20Hz

4.熱擴散系數測量精度:±5%

(測量一個獨立的樣品)

5.樣品尺寸:L 30mm,W 2.5~5mm  t 3~500μm  t 100~1000nm(基板上的薄膜)

樣品厚度的*值取決于其熱導率;

6.熱電偶類型:E型熱電偶;

7.測試氣氛:真空(<0.02Pa),大氣;

8.溫度范圍:室溫(R type) 室溫-200℃(M2 type)

9.接口:RS232C

10.電源要求:AC100V,15A;

11.外形尺寸:W 350 x D 500 x H 330 (mm) 主機,不包含突出部分;

AC法熱擴散率測量系統(tǒng)應用:

1. 測量高導熱薄板的材料的熱擴散系數;(厚度<500μm)CVD金剛石、氮化鋁等;

2. 測量金屬薄板的熱擴散系數;(厚度<5μm)銅、鎳、不銹鋼等;

3. 測量低導熱系數材料的熱擴散率;(厚度<50μm)玻璃、樹脂材料等;

4. 測量各向異性的石墨片的熱擴散系數;(厚度<100μm)聚酰亞胺及聚合物薄膜如PET;(厚度<5μm)

5. 測量沉積在基片上的氮化鋁及氧化鋁薄膜的熱擴散系數;

6. 測量沉積在玻璃基板上的DLC薄膜的熱擴散系數;

7. 測量沉積在PET基板上的有機顏料薄膜;

8. 評估各種濺射靶材料;

※測量的條件可能跟樣品的材料和物理性質改變,上述提及的是一個寬泛的標準;
測量薄膜的導熱系數(示差法)

沉積在基板上薄膜的熱導率可以通過測量基板上同一面的鍍膜區(qū)和非鍍膜區(qū)的熱擴散系數來得到。影響薄膜熱導率的因素有:

鍍膜區(qū)與非鍍膜區(qū)的測量結果;

測量基板的厚度及其體積比熱容;

薄膜的厚度及其體積比熱容;


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